Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Наукова періодика України - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (1)Реферативна база даних (11)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій


Пошуковий запит: (<.>A=Верцанова Е$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 3
Представлено документи з 1 до 3
1.

Верцанова Е. В. 
Решение научно-исследовательских задач с помощью настольного сканирующего электронного микроскопа Phenom ProX [Електронний ресурс] / Е. В. Верцанова // Наука та інновації. - 2014. - Т. 10, № 2. - С. 61-63. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/scinn_2014_10_2_10
Phenom ProX - morden effective universal desktop Scanning Electron Microscope with integrated EDS system. Phenom-World helps customers to stay competitive in a world where critical dimensions are continuously getting smaller. All Phenom desktop systems give direct access to the high resolution and high-quality imaging and analysis required in a large variety of applications. They are affordable, flexible and a fast tool enabling engineers, technicians, researchers and educational professionals to investigate micron and submicron structures.
Попередній перегляд:   Завантажити - 114.405 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
2.

Верцанова Е. В. 
Новые предложения компании STRUERS для материаловедческих лабораторий [Електронний ресурс] / Е. В. Верцанова // Наука та інновації. - 2012. - Т. 8, № 2. - С. 58-64. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/scinn_2012_8_2_12
Попередній перегляд:   Завантажити - 179.029 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
3.

Верцанова Е. В. 
Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов [Електронний ресурс] / Е. В. Верцанова // Наука та інновації. - 2013. - Т. 9, № 2. - С. 72-76. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/scinn_2013_9_2_13
Today, method of EBSD in a scanning electron microscope is used in various areas of research: in the metal, aerospace, nuclear, automotive industry, microelectronics, basic science. The quality of the sample surface is very essential for the method application. Equipment and methods of preparation from manufacturer of laboratory equipment Struers (Denmark) help to solve this problem and provide quality of sample polished surface. The paper describes main stages of sample preparation and gives recommendations on the choice of equipment and its operation modes.
Попередній перегляд:   Завантажити - 196.253 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського